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產(chǎn)品中心 材料樣品檢測(cè)
材料樣品檢測(cè) 真空探針臺(tái)
真空探針臺(tái)
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產(chǎn)品分類(lèi)高真空探針臺(tái) 冷熱型鄭科探 應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路,低溫下電解液的變化,拉曼或者xrd儀器,以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
 更新時(shí)間:2024-03-27
更新時(shí)間:2024-03-27 產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604T
產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604T 瀏覽量:1530
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真空探針臺(tái)冷熱 型鄭科探 應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路,低溫下電解液的變化,拉曼或者xrd儀器,以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
 更新時(shí)間:2024-03-27
更新時(shí)間:2024-03-27 產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604T
產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604T 瀏覽量:1377
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真空探針臺(tái) 冷熱型鄭科探 應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路,低溫下電解液的變化,拉曼或者xrd儀器,以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
 更新時(shí)間:2024-03-27
更新時(shí)間:2024-03-27 產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604T
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KT-Z1604T型號(hào)真空探針臺(tái) 冷熱型 鄭科探廠(chǎng)家應(yīng)用于傳感器,半導(dǎo)體,光電,集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本
 更新時(shí)間:2024-03-27
更新時(shí)間:2024-03-27 產(chǎn)品型號(hào):KT-Z1604T
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高溫1000度熱臺(tái),1000度探針臺(tái)尺寸小、重量輕,具備變溫測(cè)試及真空測(cè)試功能,適用于科研工作,也適用于與其他儀器聯(lián)用,是一款非常有特點(diǎn)的微探針系統(tǒng)。
 更新時(shí)間:2024-04-30
更新時(shí)間:2024-04-30 產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品型號(hào): 瀏覽量:1992
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